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联系人: 胡春辉

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基本信息

仪器规格：JEOL 7500F

生产厂家：JEOL(SEM)    Oxford(EDS)

 JSM-7500F 是一款功能强大，操作简便，节约能源的分析型场发射扫描电子显微镜。JSM-7500F具有其他扫描电子显微镜没有的低电压下最高的分辨率，在1KV下，分辨率达到了1.4nm。JSM-7500F提供了以前只有在浸没型物镜中才能达到的性能(30KV下0.6nm)。但是样品尺寸不会如浸没型物镜扫描电 子显微镜那样受到限制，可以操控直径200mm，高10mm的样品。

JSM-7500F 是一款高防震，防噪，适应苛刻安装条件的电子显微镜。良好图片性能的JSM-7500F，是一款适合纳米技术，材料和生物科学领域研究高端仪器。

主要技术指标

1.      电镜分辨率：1.0nm @ 15kV；1.4nm @ 1kV

2.      放大倍数：25-100万倍

3.      加速电压：0.1kV～30kV

4.      样品室尺寸：最大200mm直径样品

5.      束流强度：10-13到2X10-9

6.      镜检测器：高真空二次电子检测器(SE)、极靴内二次电子检测器(TLD)、极靴内背散射电子检测器(TLD-B)、四分固体式背散射电子探测器(BSE)、样品室红外CCD探测器

7.      能谱仪分辨率可低至129eV（Mn Ka），并不随探头面积增大而改变

8.      能谱元素检测范围：B5～U92

     应用范围：

 固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成份及线分布、面分布，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、热能、地球科学、环境、光电子等领域。

1.      粉末、微粒纳米样品形态和粒度的测定

2.      金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析

3.      复合材料界面特性的研究

4.      材料中元素定性分析、定量分析、线分析、面分析

5.      材料及电子器件失效分析